菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

• 更新時(shí)間：2020-09-21
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菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

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 菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。XDL 230特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品，當(dāng)測(cè)量門開(kāi)啟時(shí)，XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測(cè)量點(diǎn)位置。對(duì)于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開(kāi)口（C形槽）。由于測(cè)量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測(cè)量平面平整的物體，也可以測(cè)量形狀復(fù)雜的大樣品（樣品高度可達(dá)140mm）。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器，測(cè)量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測(cè)量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體（DCM方法）

電鍍液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)

PCB 裝配: 含鉛量測(cè)試

設(shè)計(jì)理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。手動(dòng)操作的X-Y工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以準(zhǔn)確定位測(cè)量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過(guò)程和進(jìn)度。測(cè)量箱底部的開(kāi)槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡(jiǎn)化了樣品擺放，并且允許測(cè)量點(diǎn)的準(zhǔn)確調(diào)整。所有的儀器操作，以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過(guò)功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。XDL型鍍層測(cè)厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器，型式許可*符合德國(guó)“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定。

主要特征：
帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。
*高工作條件:50KV,50W
X射線探測(cè)器采用比例接收器
準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換
測(cè)量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
固定樣品支撐臺(tái) ，手動(dòng)XY工作臺(tái)
攝像頭用來(lái)查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置。
設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)